| 发明名称 |
SONDE DE MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE, SON PROCEDE DE PREPARATION ET SES UTILISATIONS |
| 摘要 |
<p>La présente invention concerne une sonde de microscope à force atomique comprenant (i) un résonateur piézo-électrique muni de deux électrodes et revêtu d'une couche isolante et (ii) une pointe fixée sur ledit résonateur revêtu et fonctionnalisée par au moins un groupement ou une molécule d'intérêt. La présente invention concerne également son procédé de préparation et ses différentes utilisations.</p> |
| 申请公布号 |
FR2969762(A1) |
申请公布日期 |
2012.06.29 |
| 申请号 |
FR20100061038 |
申请日期 |
2010.12.22 |
| 申请人 |
COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIESALTERNATIVES |
发明人 |
POLESEL-MARIS JEROME;BERTHELOT THOMAS;VIEL PASCAL |
| 分类号 |
G01Q60/42;G01Q20/04 |
主分类号 |
G01Q60/42 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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