发明名称 用于校准多轴计量系统的几何形状的方法
摘要 一种用于校准多轴计量系统的几何形状的方法,其中所述系统包括具有多轴零件定位装置的机器,并且在机器内嵌有波阵面测量量具。该量具被用来确定平动轴和转动轴之间、零件表面坐标和机器坐标之间、以及机器坐标和嵌入式量具坐标之间的空间关系,校准机器和嵌入式量具的各个分量,并且用于将自身对准机器。完整的方法包括以下步骤:粗略地对准机器转动轴和它们各自的平动轴,并且为转动轴设置标称零点;将嵌入式量具主机架对准机器轴线;将嵌入式量具的焦点对准到主轴轴线上;如此对准之后,确定转动轴之间的空间偏移;精确地对准机器转动轴和它们各自的平动轴;以及为转动轴设置精确的零点。
申请公布号 CN102519399A 申请公布日期 2012.06.27
申请号 CN201110339355.X 申请日期 2004.11.18
申请人 QED国际科技公司 发明人 保罗·墨菲;乔恩·弗里格;格雷格·福布斯
分类号 G01B11/27(2006.01)I 主分类号 G01B11/27(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 吴敬莲
主权项 一种用于校正和对准计量系统的方法,其中所述计量系统包括多轴机械定位系统和嵌入式波阵面测量量具,以便精确地确定系统的平动轴和转动轴之间的空间关系,所述方法包括下述步骤:a)粗略地对准所述机械定位系统转动轴A,B和C以及所述各自的平动轴Z,Y和X,并且对所述转动轴设置标称零点;b)将所述嵌入式量具的主机架对准所述机械定位系统;c)将所述嵌入式量具对准所述A转动轴(主轴);d)当如此对准时,确定在所述转动轴之间的空间偏移;以及e)精确地对准所述机器转动轴和所述各自的平动轴,以便对所述转动轴设置精确的零点。
地址 美国伊利诺斯州