发明名称 | 用于校准多轴计量系统的几何形状的方法 | ||
摘要 | 一种用于校准多轴计量系统的几何形状的方法,其中所述系统包括具有多轴零件定位装置的机器,并且在机器内嵌有波阵面测量量具。该量具被用来确定平动轴和转动轴之间、零件表面坐标和机器坐标之间、以及机器坐标和嵌入式量具坐标之间的空间关系,校准机器和嵌入式量具的各个分量,并且用于将自身对准机器。完整的方法包括以下步骤:粗略地对准机器转动轴和它们各自的平动轴,并且为转动轴设置标称零点;将嵌入式量具主机架对准机器轴线;将嵌入式量具的焦点对准到主轴轴线上;如此对准之后,确定转动轴之间的空间偏移;精确地对准机器转动轴和它们各自的平动轴;以及为转动轴设置精确的零点。 | ||
申请公布号 | CN102519399A | 申请公布日期 | 2012.06.27 |
申请号 | CN201110339355.X | 申请日期 | 2004.11.18 |
申请人 | QED国际科技公司 | 发明人 | 保罗·墨菲;乔恩·弗里格;格雷格·福布斯 |
分类号 | G01B11/27(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/27(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 吴敬莲 |
主权项 | 一种用于校正和对准计量系统的方法,其中所述计量系统包括多轴机械定位系统和嵌入式波阵面测量量具,以便精确地确定系统的平动轴和转动轴之间的空间关系,所述方法包括下述步骤:a)粗略地对准所述机械定位系统转动轴A,B和C以及所述各自的平动轴Z,Y和X,并且对所述转动轴设置标称零点;b)将所述嵌入式量具的主机架对准所述机械定位系统;c)将所述嵌入式量具对准所述A转动轴(主轴);d)当如此对准时,确定在所述转动轴之间的空间偏移;以及e)精确地对准所述机器转动轴和所述各自的平动轴,以便对所述转动轴设置精确的零点。 | ||
地址 | 美国伊利诺斯州 |