访问寄存器的方法、装置及自动测试机

摘要

本发明公开了一种访问寄存器的方法、装置及自动测试机，属于电子技术领域。方法包括：基于接口确定用于访问寄存器的基本向量，所述接口是芯片与自动测试机之间的连接接口；根据待访问的寄存器的地址刷新所述基本向量，得到刷新的基本向量；通过调用所述刷新的基本向量访问所述待访问的寄存器。本发明通过基于接口确定用于访问寄存器的基本向量，无需通过仿真来确定向量，也无需受限于仿真出向量的时间，并通过根据待访问的寄存器的地址刷新基本向量得到刷新的基本向量，再通过调用刷新的基本向量访问待访问的寄存器，从而简化了访问寄存器的操作，提高了操作速度，进而提高了测试速度。

主权项

一种访问寄存器的方法，其特征在于，所述方法包括：基于接口确定用于访问寄存器的基本向量，所述接口是芯片与自动测试机之间的连接接口；根据待访问的寄存器的地址刷新所述基本向量，得到刷新的基本向量；通过调用所述刷新的基本向量访问所述待访问的寄存器。