发明名称 | 一种便于磨抛透射电镜试样的装置 | ||
摘要 | 一种便于磨抛透射电镜试样的装置属于金属材料磨抛试样设备领域。其特征在于:由带有中心通孔的柱体、螺栓构成;螺栓放置在中心通孔内且与柱体紧密扣合;螺栓的上半部分为标准螺栓,下半部分为与标准螺栓同轴且一体的延长杆,此延长杆是直径为3mm的圆柱杆。通过旋转螺栓使延长杆向下运动,当延长杆触及圆片时,根据所需最终的磨抛厚度,将薄圆片一点点顶出,进行机械研磨,直到减薄至所需尺寸。本装置具备以下优点:1、实用性强,针对切成φ3mm的各种圆片都可进行磨抛操作。2、直观便捷地控制磨抛过程中对圆片厚度的把握。3、提高效率,对剪切成φ3mm的圆片进行再磨抛,可提高制备透射电镜试样的效率和成功率。 | ||
申请公布号 | CN102519778A | 申请公布日期 | 2012.06.27 |
申请号 | CN201110442695.5 | 申请日期 | 2011.12.26 |
申请人 | 北京工业大学 | 发明人 | 范爱玲;张姗;黄浪;马捷;魏建忠 |
分类号 | G01N1/32(2006.01)I | 主分类号 | G01N1/32(2006.01)I |
代理机构 | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人 | 刘萍 |
主权项 | 一种便于磨抛透射电镜试样的装置,其特征在于:由带有中心通孔的柱体和螺栓构成;螺栓放置在柱体中心通孔内且与柱体紧密扣合;螺栓的上半部分为标准螺栓,下半部分为与标准螺栓同轴且一体的延长杆,此延长杆是直径为3mm的圆柱杆。 | ||
地址 | 100124 北京市朝阳区平乐园100号 |