发明名称 |
一种元器件自动计数统计方法和装置 |
摘要 |
本发明公开了一种利用机器视觉和图像处理的方法进行元器件数量自动统计的方法和装置。能够对贴片电阻、贴片电容等小尺寸元器件自动进行比较精确数量统计,不仅提升了计数效率和计数准确性,而且降低了操作人员的劳动强度。 |
申请公布号 |
CN102521648A |
申请公布日期 |
2012.06.27 |
申请号 |
CN201110418587.4 |
申请日期 |
2011.12.15 |
申请人 |
北京振兴计量测试研究所 |
发明人 |
王加朋;李世伟;魏建强;张玉国;孙红胜;张虎 |
分类号 |
G06M11/00(2006.01)I;G06K9/46(2006.01)I;G06K9/54(2006.01)I |
主分类号 |
G06M11/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种元器件自动计数统计方法,包括以下步骤:步骤1:将元器件平铺在可透光的元器件托盘上,以均匀光源照射托盘,在另一侧设置图像采集装置,采集以光源为背景的元器件分布图像,将图像存储为图像1。步骤2:对图像1进行闭运算,结果存为图像2。步骤3:对图像2进行二值化,结果存为图像3。步骤4:对图像3进行开运算,结果存为图像4。步骤5:对图像4进行放大,细化图像,结果存为图像5。步骤6:提取图像5边缘,存为图像6,计算图像6中闭合区域内像素在一定范围的闭合区域的数量,该范围由当前元器件在图像中成像的大小决定。步骤7:重复步骤4‑步骤6,直至目标统计数量趋于稳定。取稳定值做为图像1的目标统计结果。步骤8:振动托盘,改变元器件在托盘上的分布,重复步骤1‑步骤7,取数次目标统计结果的最大值作为统计的最终结果。 |
地址 |
100074 北京市7200信箱21分箱 |