发明名称 |
一种处理器芯片频率的筛选方法 |
摘要 |
本发明为一种处理器芯片频率的筛选方法,包括以下四个步骤:依据物理关键路径覆盖率优化得到用于进行频率筛选的指令级功能测试向量;通过扫描链装置将所述用于频率筛选的指令级功能测试向量写入所述处理器芯片高速缓存中;在自动测试仪器上为所述处理器芯片配置相位锁定环高速时钟,执行所述高速缓存中的指令级功能测试向量进行频率筛选,评定所述处理器芯片的频率档次。还可以包括以下步骤:通过对所述处理器芯片抽样并进行板级功能测试,获得频率偏差,校正并标定所述处理器芯片的最终频率。本发明方法简单,成本低廉,而且结果准确、有效。 |
申请公布号 |
CN101839962B |
申请公布日期 |
2012.06.27 |
申请号 |
CN201010153625.3 |
申请日期 |
2010.04.23 |
申请人 |
龙芯中科技术有限公司 |
发明人 |
李向库;齐子初;马麟;李晓钰;陈云霁;胡伟武 |
分类号 |
G01R31/3185(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/3185(2006.01)I |
代理机构 |
北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11369 |
代理人 |
史霞 |
主权项 |
一种处理器芯片频率的筛选方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S001,依据物理关键路径覆盖率优化得到用于进行频率筛选的指令级功能测试向量;步骤S002,通过扫描链装置将所述用于频率筛选的指令级功能测试向量写入所述处理器芯片高速缓存中;步骤S003,在自动测试仪器上为所述处理器芯片配置相位锁定环高速时钟,执行所述高速缓存中的指令级功能测试向量进行频率筛选,评定所述处理器芯片的频率档次;步骤S004,通过对所述处理器芯片抽样并进行板级功能测试,获得频率偏差,校正并标定所述处理器芯片的最终频率。 |
地址 |
100080 北京市海淀区科学院南路10号 |