发明名称 |
硬盘测试方法和装置 |
摘要 |
本发明公开了一种硬盘测试方法和装置,其中,该方法包括:读取硬盘的第一预定参数信息;对被测的硬盘进行系统安装策测试,测试硬盘是否能够在多种控制器和多种工作模式下实现系统安装功能;根据预定策略,测试硬盘在多种控制器和多种工作模式下的工作性能;针对多种控制器和多种操作系统对硬盘进行热插拔测试;测试硬盘在预定工作负载下的工作性能;读取硬盘的第二预定参数信息,并将第二预定参数信息与第一预定参数信息进行比较,其中,第一预定参数信息和第二预定参数信息对应相同类型的参数。本发明能够针对多种类型的硬盘控制器和工作模式,对硬盘的稳定性、可靠性、功能性、兼容性等多个方面进行全面测试和评估。 |
申请公布号 |
CN102521092A |
申请公布日期 |
2012.06.27 |
申请号 |
CN201110455927.0 |
申请日期 |
2011.12.31 |
申请人 |
曙光信息产业股份有限公司 |
发明人 |
赵雷 |
分类号 |
G06F11/22(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/22(2006.01)I |
代理机构 |
北京德恒律师事务所 11306 |
代理人 |
陆鑫;房岭梅 |
主权项 |
一种硬盘测试方法,其特征在于,包括:读取硬盘的第一预定参数信息;对被测的硬盘进行系统安装策测试,测试所述硬盘是否能够在多种控制器和多种工作模式下实现系统安装功能;根据预定策略,测试所述硬盘在所述多种控制器和所述多种工作模式下的工作性能;针对所述多种控制器和多种操作系统对所述硬盘进行热插拔测试;测试所述硬盘在预定工作负载下的工作性能;读取所述硬盘的第二预定参数信息,并将所述第二预定参数信息与所述第一预定参数信息进行比较,其中,所述第一预定参数信息和所述第二预定参数信息对应相同类型的参数。 |
地址 |
300384 天津市西青区华苑产业区(环外)海泰华科大街15号1-3层 |