| 摘要 |
Устройство для измерения характеристик МДП-структур, содержащее генератор тестового сигнала и генератор напряжения смещения, выход которых соединены с первой клеммой для подключения испытуемой структуры, вторая клемма для подключения которой соединена с первым выводом резистора, второй вывод которого соединен с общей шиной, усилитель напряжения, вход которого также соединен со второй клеммой для подключения испытуемой структуры, сумматор, логический элемент "И", блок задержки, блок сравнения, выход которого соединен со стробирующим входом блока измерения напряжения, выход которого соединен с первым входом блока обработки и отображения информации, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений, оно снабжено формирователем импульсов, генератором тактовых импульсов, двумя ключами, вторым сумматором, причем второй выход генератора напряжения смещения соединен с первым входом формирователя импульсов, второй вход которого соединен с выходом логического элемента И, первый вход которого подключен к первому выходу формирователя импульсов, второй выход которого соединен с первым входом генератора тактовых импульсов, а также с первым входом блока задержки, выход которого подключен ко второму входу генератора тактовых импульсов, выход которого соединен соответственно с первым входом первого сумматора и синхронизирующим входом блока сравнения, первый вход которого подключен к выходу первого сумматора, а второй - к выходу второго сумматора, вход которого подключен к выходу первого ключа, первый вход которого соединен с выходом блока сравнения, который также подключен к первому входу второго ключ |
