发明名称 |
测试系统以及测试方法 |
摘要 |
本发明提出一种测试系统以及测试方法。该测试系统包含测试平台以及取放装置。测试平台包含金属底板、测试环境电路板、测试座以及金属壁。测试环境电路板设置于金属底板上,测试座设置于测试环境电路板上,而金属壁设置于金属底板上且环绕测试座。取放装置可移动地设置于测试平台上方,并用以将待测单元放置于测试座上。取放装置的金属盖板对应测试平台的金属壁。当取放装置将待测单元放置于测试座上时,金属盖板配合测试平台的金属壁与金属底板形成隔离空间,以隔离该待测单元。 |
申请公布号 |
CN101839961B |
申请公布日期 |
2012.06.27 |
申请号 |
CN200910128881.4 |
申请日期 |
2009.03.19 |
申请人 |
广达电脑股份有限公司 |
发明人 |
聂国强;沈里正;徐锦莲;谢宗莹 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I;G01R1/18(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
魏晓刚 |
主权项 |
一种测试系统,包含:测试平台以及取放装置,该测试平台包含:金属底板;测试环境电路板,设置于该金属底板上;测试座,设置于该测试环境电路板上并与该测试环境电路板电性连接;以及金属壁,设置于该金属底板上且环绕该测试座,该取放装置可移动地设置于该测试平台上方,该取放装置包含金属盖板,该取放装置用以将待测单元放置于该测试座上,该金属盖板对应该测试平台的该金属壁,其中当该取放装置将该待测单元放置于该测试座上时,该金属盖板配合该测试平台的该金属壁与该金属底板形成隔离空间以隔离该待测单元。 |
地址 |
中国台湾桃园县 |