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经营范围
发明名称
发光二极体晶圆之检测装置
摘要
一种发光二极体晶圆之检测装置,包括一取像单元、一辨识单元以及一记忆单元。该发光二极体晶圆包括复数个晶粒。该取像单元用于撷取该发光二极体晶圆表面之一影像。该辨识单元用于比对一文档及该取像单元所撷取之该影像,其中该文档包括该等晶粒电性测试的资讯。该记忆单元用于储存该辨识单元比对之结果。本创作系利用自动检测达到减少人工漏检及缩短时间的目的。
申请公布号
TWM432037
申请公布日期
2012.06.21
申请号
TW100221707
申请日期
2011.11.17
申请人
百励科技股份有限公司
发明人
郑竹岚
分类号
G01N21/00
主分类号
G01N21/00
代理机构
代理人
刘育志 台北市大安区敦化南路2段77号19楼
主权项
地址
台北市松山区延吉街11号2楼之1 TW 2F.-1, NO. 11, YANJI ST., SONGSHAN DIST., TAIPEI CITY 105, TAIWAN (R. O. C.)
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