发明名称 发光二极体晶圆之检测装置
摘要 一种发光二极体晶圆之检测装置,包括一取像单元、一辨识单元以及一记忆单元。该发光二极体晶圆包括复数个晶粒。该取像单元用于撷取该发光二极体晶圆表面之一影像。该辨识单元用于比对一文档及该取像单元所撷取之该影像,其中该文档包括该等晶粒电性测试的资讯。该记忆单元用于储存该辨识单元比对之结果。本创作系利用自动检测达到减少人工漏检及缩短时间的目的。
申请公布号 TWM432037 申请公布日期 2012.06.21
申请号 TW100221707 申请日期 2011.11.17
申请人 百励科技股份有限公司 发明人 郑竹岚
分类号 G01N21/00 主分类号 G01N21/00
代理机构 代理人 刘育志 台北市大安区敦化南路2段77号19楼
主权项
地址 台北市松山区延吉街11号2楼之1 TW 2F.-1, NO. 11, YANJI ST., SONGSHAN DIST., TAIPEI CITY 105, TAIWAN (R. O. C.)