用于测试影像感测晶片之垂直式探针卡

摘要

一种用于测试影像感测晶片之垂直式探针卡，包含有一电路板、至少一固定单元，以及复数弹簧式探针(Sprine Probe)。该电路板具有一视窗，该固定单元结合于电路板下面，但未将该视窗所遮蔽，该固定单元另具有复数贯穿的结合孔。该弹簧式探针结合于前述固定单元之结合孔内，该弹簧探针是采垂直于视窗的方向设置；藉此使本发明之垂直式探针卡能进行影像感测晶片的测试。