发明名称 测试装置以及电子元件
摘要 一种测试装置包括:主记忆体,记忆图案资料;图案快取记忆体,对自主记忆体读出的图案资料进行快取;图案产生控制部,自主记忆体中读出图案资料,并将其写入图案快取记忆体;图案产生部,依序读出并输出储存于图案快取记忆体的各快取入口的图案资料;以及通道电路,根据图案产生部输出的图案资料而生成针对多个端子中各个端子的测试信号,并将其供给至被测试元件,上述图案产生控制部包括:复制部,生成将图案资料的至少一个图案位元复制为与两个或两个以上的端子相对应的图案位元而得的图案资料;以及写入部,将图案资料写入图案快取记忆体。
申请公布号 TWI366675 申请公布日期 2012.06.21
申请号 TW097109483 申请日期 2008.03.18
申请人 爱德万测试股份有限公司 日本 发明人 山田达也
分类号 G01R31/3183 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 日本