发明名称 用来对片膜侦测瑕疵的片膜材料检验系统、用来侦测片膜上之瑕疵的片膜材料检验系统,及对片膜检验瑕疵的方法
摘要 提供一种供片膜检验程序使用的照明系统。此照明系统可配合于一摄影机系统来侦测片膜材料上的瑕疵,而该摄影机具有排成一条线的光感测器。此照明系统具有一单一光源及一可将光线配置成一组光束的透镜。每一道光束均会被投射至该片膜上一个相关的小部位内,因此该等光束共同可以照亮该片膜上的一条检验线。在该等光束投射至该片膜上后,来自每一个别片膜部位的光线会被摄影机内的一感测器所接收。依据该摄影机及光线的配置,该光线可以被折射穿透或是自该片膜上反射回来。如果瑕疵是存在于一个小部位内,则与该部位有关的光束的一部份将会沿着与无瑕疵存在时不同的路径移动,并且不会被感测器所接收到。以此方式,一感测器所接收到的光资讯的量会在该感测器所相关的小部位内有瑕疵存在的情形下产生变化,因而显露出该小部位内的该瑕疵。
申请公布号 TWI366661 申请公布日期 2012.06.21
申请号 TW094126245 申请日期 2005.08.02
申请人 温萃斯工程公司 美国 发明人 克里斯多夫 奇瑞利
分类号 G01B11/30 主分类号 G01B11/30
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
地址 美国