发明名称 Test von Dual-Interface-Chipkarten
摘要 Bei einer Doppelschnittstellen-Chipkarte (20) mit zwei unabhängigen Schnittstellen (23, 24) kann es vorkommen, dass über beide Schnittstellen (23, 24) Kommandos (14, 15) gleichzeitig empfangen werden. Ein derartiger simultaner Betrieb der Schnittstellen (23, 24) kann systematisch getestet werden, indem eine Testvorrichtung (1) über eine erste Datenkommunikationseinrichtung (4 oder 7) eine Datenkommunikation mit einer der beiden Schnittstellen (23 oder 24) durchführt und währenddessen mittels einer zweiten Datenkommunikationseinrichtung (24 oder 23) eine weitere Datenkommunikation mit der jeweils anderen der beiden Schnittstellen (24 oder 23) gestartet wird. Dies wird erreicht, indem die erste Datenkommunikationseinrichtung (4 oder 7) bei Auftreten eines bestimmten vorgegebenen ereignisses ein Auslösesignal (13) an eine zweite Datenkommunikationseinrichtung (7 oder 4) überträgt. Dadurch kann das Absetzen von Kommandos (14, 15) an die beiden Schnittstellen (23, 24) zeitlich synchronisiert erfolgen. Aus den jeweils von der Chipkarte (20) in Reaktion auf die beiden synchron eingehenden Kommandos (14, 15) zurückgesandten Antwortkommandos kann die Zuverlässigkeit des simultanen Betriebs der beiden Schnittstellen (23, 24) der Doppelschnittstellen-Chipkarte (20) ermittelt werden.
申请公布号 DE102005062996(B4) 申请公布日期 2012.06.21
申请号 DE200510062996 申请日期 2005.12.30
申请人 GIESECKE & DEVRIENT GMBH 发明人 BRANDL, DENNY;ULBRICHT, THORSTEN;SCHMIDTKE, RAINER
分类号 G06F11/16;G01R31/00;G06F13/00;G06K19/07 主分类号 G06F11/16
代理机构 代理人
主权项
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