| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Verschmutzungsprüfung der Messfenster (3) einer Messvorrichtung (10) zur Prüfung von Blattgut (1), eine Messvorrichtung (10), die das Verfahren durchführt, und eine Vorrichtung (20) zur Bearbeitung von Blattgut, die die Messvorrichtung aufweist. Erfindungsgemäß werden zur Verschmutzungsprüfung der Messfenster (3) nur Bereiche (4) der Messfenster herangezogen, die hinsichtlich ihrer Breite und ihrer Lage im Strahlengang des Lichts denjenigen Bereichen (2, 2') des geprüften Blattguts (1) entsprechen, die bei der Prüfung des Blattguts geprüft werden. Dadurch sind weniger Reinigungsvorgänge der Messfenster erforderlich.</p> |
