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Es wird eine Laminattyp-Keramik-Elektronikkomponente gefertigt, die einen Dickfilmwiderstand und eine Überzugslage umfasst, um zu verhindern, dass Defekte wie beispielsweise eine Delaminierung verursacht werden, und um zu verhindern, dass der Dickfilmwiderstand nach einem Laserabgleich Risse bekommt, auch wenn ein Verfahren verwendet wird, bei dem ein ungebranntes Verbundlaminat derart einem Brennen unterzogen wird, dass ein ungebranntes Keramiklaminat, ein ungebrannter Dickfilmwiderstand und eine ungebrannte Überzugslage jeweils integral gesintert werden. Die ungebrannte Überzugslage (15) ist aus einem Glaskeramikmaterial, das Glas mit im Wesentlichen denselben Bestandteilen und demselben Zusammensetzungsverhältnis wie bei dem Glas enthält, das in der ungebrannten Keramiklage (12) enthalten ist und eine Keramik enthält. Die jeweiligen Glaskeramikmaterialien, die die ungebrannte Keramiklage (12) und die ungebrannte Überzugslage (15) bilden, sind so eingestellt, dass das Verhältnis einer kristallinen Phase mit einem kleineren Wärmeausdehnungskoeffizienten als dem Wärmeausdehnungskoeffizienten der gebrannten Keramiklage bei der Überzugslage höher ist als bei der Keramiklage.
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