发明名称 Automatische Analysevorrichtung und Unterstützungssystem dafür
摘要 Bei einer herkömmlichen automatischen Analysevorrichtung dauert es ziemlich lange, wenn sich bei einer Probe mit einer Standardlösung oder einer Qualitätskontrollprobe während einer Analyse herausstellt, daß eine erneute Analyse erforderlich ist, bis die fragliche Probe identifiziert und für die nachfolgende Analyse vorbereitet ist. Die automatische Analysevorrichtung der vorliegenden Erfindung umfaßt eine Anzeigeeinrichtung zum Anzeigen von Identifikationsinformationen, mit denen der Status von oder einer Qualitätskontrollprobe identifiziert werden kann. Die Anzeigeeinrichtung weist eine Funktion zum selektiven Anzeigen der Identifikationen nach einer Änderung im Status der Messungen für eine Probe auf. Ein Bediener kann dadurch sofort die für die Analyse verwendete Probe erkennen, wodurch die Zeit kürzer wird, die bis zur nachfolgenden Analyse vergeht.
申请公布号 DE112009003796(T5) 申请公布日期 2012.06.21
申请号 DE200911003796T 申请日期 2009.12.04
申请人 HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORP. 发明人 NAKAMURA, KAZUHIRO;MURATA, SUMIKO;SHIBUYA, SATOSHI
分类号 G01N35/00 主分类号 G01N35/00
代理机构 代理人
主权项
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