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经营范围
发明名称
Procédé de détermination de la qualité de structure de cristaux
摘要
申请公布号
FR1390525(A)
申请公布日期
1965.02.26
申请号
FR19640965638
申请日期
1964.02.28
申请人
INSTITUT FUER HALBLEITERTECHNIK
发明人
SCHULZ MANFRED
分类号
G01N21/88
主分类号
G01N21/88
代理机构
代理人
主权项
地址
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