发明名称 |
一种器件时序参数确定方法和装置 |
摘要 |
一种器件时序参数确定方法和装置,上述方法包括以下步骤:上位机将待测试的时序参数写入待测器件的一个时序模块,并对上述器件进行压力测试,测试结束后,判断是否有未被测试过的时序参数;若是,则将下一个时序参数写入上述时序模块中,继续进行压力测试,否则计算通过压力测试的时序参数的平均值,并将上述平均值作为上述器件在上述时序模块的最佳时序参数。本发明可以快速确定器件的最佳时序参数,缩短了嵌入式系统的调试时间,使嵌入式产品在各种环境下都能够稳定运行。 |
申请公布号 |
CN102508149A |
申请公布日期 |
2012.06.20 |
申请号 |
CN201110345911.4 |
申请日期 |
2011.11.04 |
申请人 |
中兴通讯股份有限公司 |
发明人 |
关朕 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市爱派知识产权事务所 44292 |
代理人 |
梁培峰 |
主权项 |
一种器件时序参数确定方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:上位机将待测试的时序参数写入待测器件的一个时序模块,并对所述器件进行压力测试,测试结束后,判断是否有未被测试过的时序参数;若是,则将下一个时序参数写入所述时序模块中,继续进行压力测试;否则计算通过压力测试的时序参数的平均值,并将所述平均值作为所述器件在所述时序模块的最佳时序参数。 |
地址 |
518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部 |