发明名称 |
改善一次性可编程存储器使用性能的方法及装置 |
摘要 |
本发明实施例公开了一种改善一次性可编程存储器使用性能的方法及装置,用于数据的烧录及启动程序的运行。本发明实施例方法包括:确定OTP存储器中空片OTP区块及OTP区块存储空间的大小;将待烧录数据按照OTP区块的大小划分数据块,确定起始数据块及起始OTP区块,依次将数据块烧录OTP区块中,且完成数据块烧录之后,对烧入该数据块的OTP区块进行CRC校验,若通过CRC校验,则对下个待烧录数据块进行烧录及校验的过程,若未通过CRC校验,则将未烧录成功的数据块再次进行烧录及校验的过程,直至烧录成功,再对下一个数据块进行烧录校验,提高了OTP存储器的良品率。 |
申请公布号 |
CN102508732A |
申请公布日期 |
2012.06.20 |
申请号 |
CN201110327756.3 |
申请日期 |
2011.10.25 |
申请人 |
深圳芯邦科技股份有限公司 |
发明人 |
胡家安;韦明 |
分类号 |
G06F11/10(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/10(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
逯长明 |
主权项 |
一种改善一次性编程OTP存储器使用性能的方法,其特征在于,包括:确定OTP存储器中空片OTP区块及所述OTP区块存储空间的大小;将待烧录数据按照所述OTP区块的存储空间的大小划分数据块;确定起始数据块及起始空片OTP区块;将所述数据块烧录到所述OTP区块中,启动循环冗余校验码CRC电路生成所述数据块对应的CRC码;根据所述CRC码,启动CRC电路对所述OTP区块中的数据进行CRC校验;若所述OTP区块中的数据未通过CRC校验,则确定下一个待烧录数据的空片OTP区块,返回执行所述将所述数据块烧录到所述OTP区块中,启动CRC电路生成所述数据块对应的CRC码的步骤;若所述OTP区块中的数据通过CRC校验,则将所述OTP区块的偏移地址、有效标记位及所述数据块的CRC码写入所述OTP存储器对应的配置表中;判断所述数据块是否为所述待烧录数据的最后一个数据块;若所述数据块不是所述待烧录数据的最后一个数据块,所述确定下一个待烧录的数据块及下一个待烧录数据的空片OTP区块,返回执行所述将所述数据块烧录到所述OTP区块中,启动CRC电路生成所述数据块对应的CRC码的步骤;若所述数据块为所述待烧录数据的最后一个数据块,则停止数据烧录;确定下一个待烧录数据的空片OTP区块,将所述配置表烧录到所述OTP区块中。 |
地址 |
518000 广东省深圳市南山区科技中二路深圳软件园12号楼701、702室 |