发明名称 静脉成像设备、位移插值方法
摘要 公开了静脉成像设备、位移插值方法。一种静脉成像设备的成像部件包括:静脉图像数据生成区域,用于基于被透镜阵列会聚并在活体中散射开且穿过静脉的近红外光生成静脉的图像数据;以及位移检测数据生成区域,包括其中给像素遮光的遮挡部分以及其中不给像素遮光的开口部分,并生成用于检测位移的数据,所述用于检测位移的数据被用来基于通过开口部分接收到的光来检测图像聚焦位置根据成像温度的变化。该静脉成像设备检测光的图像聚焦位置并估算设备中产生的位移量。该静脉成像设备基于所得到的位移量来选择像素。
申请公布号 CN101884537B 申请公布日期 2012.06.20
申请号 CN201010177199.7 申请日期 2010.05.07
申请人 索尼公司 发明人 佐藤英雄
分类号 A61B5/117(2006.01)I;G06K9/20(2006.01)I 主分类号 A61B5/117(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 李春晖;李德山
主权项 一种静脉成像设备,包括:透镜阵列,包括布置为阵列的多个光接收透镜;近红外光发光源,被布置在所述透镜阵列的一端并向活体的一部分发射近红外光;成像部件,包括:静脉图像数据生成区域,将多个像素分配给所述光接收透镜之一,该静脉图像数据生成区域用于基于被所述透镜阵列会聚并在所述活体中散射开且穿过静脉的近红外光生成静脉的图像数据;和位移检测数据生成区域,其包括其中给像素遮光的遮挡部分以及其中不给像素遮光的开口部分,并生成用于检测位移的数据,所述用于检测位移的数据被用来基于通过所述开口部分接收到的光来检测图像聚焦位置根据成像温度的变化;图像聚焦位置检测单元,用于基于从所述位移检测数据生成区域获得的所述用于检测位移的数据来检测在成像温度下的图像聚焦位置;位移量估算单元,用于基于由所述图像聚焦位置检测单元检测到的图像聚焦位置来估算在所述成像温度下所述图像聚焦位置的移动量;以及像素选择单元,用于基于所述移动量从与所述光接收透镜之一对应的多个像素中选择生成静脉图像数据的像素,所述静脉图像数据用于生成静脉图像。
地址 日本东京都