发明名称 | 一种实现DIMM测试的方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种实现DIMM测试的方法,其具体实现步骤为:首先将现场可编程门阵列FPGA芯片连接控制芯片、高速接口和多个通道的双列直插式存储模块DIMM逻辑接口,由FPGA芯片、控制芯片、高速接口、DIMM逻辑接口组成DIMM验证系统,该验证系统形成一电子盘;然后通过高速接口将主设备端的读写指令向系统发送;最后由控制芯片负责指令解析及通过控制DIMM逻辑来对待测试DIMM进行读写操作,实现DIMM测试。该一种实现DIMM测试的方法和现有技术相比,测试速度快,测试效率高,可高速读写,具有很好的推广使用价值。 | ||
申请公布号 | CN102508749A | 申请公布日期 | 2012.06.20 |
申请号 | CN201110318440.8 | 申请日期 | 2011.10.19 |
申请人 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 发明人 | 姜凯;于治楼;沈忱 |
分类号 | G06F11/22(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/22(2006.01)I |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 一种实现DIMM测试的方法,其特征在于其具体实现步骤为:首先将现场可编程门阵列FPGA芯片连接控制芯片、高速接口和多个通道的双列直插式存储模块DIMM逻辑接口,由FPGA芯片、控制芯片、高速接口、DIMM逻辑接口组成DIMM验证系统,该验证系统形成一电子盘;然后通过高速接口将主设备端的读写指令向系统发送;最后由控制芯片负责指令解析及通过控制DIMM逻辑来对待测试DIMM进行读写操作,实现DIMM测试。 | ||
地址 | 250101 山东省济南市高新区舜雅路1036号 |