发明名称 一种缺陷检测方法及系统
摘要 本发明适用于检测领域,提供了一种缺陷检测方法及系统,所述方法包括以下步骤:对待检测设备进行图像采集,对采集的图像进行预处理;将预存的灰度模板与预处理后的采集图像进行差值运算,得到灰度模板差值图像;对所述灰度模板差值图像进行二值化处理,得到差值二值化图像;将预存的二值模板与所述差值二值化图像进行差值运算,得到二值模板差值图像;对所述二值模板差值图进行轮廓查找,根据查找轮廓的结果对所述待检测设备判定是否有缺陷。本发明通过采用基于二重模板匹配的缺陷检测方法降低了光线变化带来的图像边缘干扰,特别对于表面较为复杂的检测设备,能有效降低误检率,提高检测精度,具有较强的实用性。
申请公布号 CN102509300A 申请公布日期 2012.06.20
申请号 CN201110367613.5 申请日期 2011.11.18
申请人 深圳市宝捷信科技有限公司 发明人 张俊;梁日雄;李运秀;杨江华;廖家亮;余加波;李佐广;李耀华
分类号 G06T7/00(2006.01)I 主分类号 G06T7/00(2006.01)I
代理机构 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人 张全文
主权项 一种缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:对待检测设备进行图像采集,对采集的图像进行预处理;将预存的灰度模板与预处理后的采集图像进行差值运算,得到灰度模板差值图像;对所述灰度模板差值图像进行二值化处理,得到差值二值化图像;将预存的二值模板与所述差值二值化图像进行差值运算,得到二值模板差值图像;对所述二值模板差值图进行轮廓查找,根据查找轮廓的结果对所述待检测设备判定是否有缺陷。
地址 518000 广东省深圳市宝安区铁岗桃花源科技创新园蚝业分园B栋