| 发明名称 | 一种X射线荧光光谱仪的测量设置结构 | ||
| 摘要 | 一种X射线荧光光谱仪的测量设置结构，光谱仪包括X射线管和探测器，X射线管与样品间入射角为α，探测器与样品间出射角为β，α和β的范围为45°～55°，X射线管的发射端与样品入射点的间距d1为1～1.2cm，样品入射点与探测器接收端的间距d2为1.1～1.6cm。本发明优化设计了X射线管、样品和探测器之间的结构，降低了X射线荧光光谱分析中的散射背景，提高特征X射线全能峰的峰背比，以便降低测量系统的检出限。 | ||
| 申请公布号 | CN102507625A | 申请公布日期 | 2012.06.20 |
| 申请号 | CN201110372289.6 | 申请日期 | 2011.11.22 |
| 申请人 | 南京华欣分析仪器制造有限公司;东南大学 | 发明人 | 戴挺;杨立新;周怡君;徐随山;杜曙威 |
| 分类号 | G01N23/223(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/223(2006.01)I |
| 代理机构 | 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 | 代理人 | 黄明哲 |
| 主权项 | 一种X射线荧光光谱仪的测量设置结构，其特征是光谱仪包括X射线管和探测器，X射线管与样品间入射角为α，探测器与样品间出射角为β，α和β的范围为45°～55°，X射线管的发射端与样品入射点的间距d1为1～1.2cm，样品入射点与探测器接收端的间距d2为1.1～1.6cm。 | ||
| 地址 | 211300 江苏省南京市高淳县淳溪镇汶溪路289号 | ||