发明名称 基于微扫描的像质检测用哈特曼波前传感器
摘要 本发明属于光学检测领域,涉及一种哈特曼传感器。该装置由光路缩束系统、微扫描装置、微透镜阵列、CCD探测器、数字图像处理器以及波前处理机组成。将微扫描装置放置于平行光管与微透镜阵列之间,经过微扫描,由CCD采集到被测波前4帧图像,经过数字图像处理器重建成单帧图像,再由波前处理机进行质心计算及波前重构。本发明可提高哈特曼传感器的像质检测精度,扩大哈特曼传感器的使用范围。
申请公布号 CN102507019A 申请公布日期 2012.06.20
申请号 CN201110370458.2 申请日期 2011.11.21
申请人 长春理工大学 发明人 付跃刚;刘妍;刘智颖;王加科;张磊;高天元
分类号 G01J9/00(2006.01)I;G02B26/06(2006.01)I;G02B3/00(2006.01)I 主分类号 G01J9/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 基于微扫描的像质检测用哈特曼波前传感器,包括光路缩束系统,微扫描装置以及相应的数字图像处理器,微透镜阵列,CCD探测器以及波前处理机;其特征在于在缩束系统之后微透镜阵列之前放置微扫描装置。
地址 130022 吉林省长春市卫星路7089号