发明名称 |
基于微扫描的像质检测用哈特曼波前传感器 |
摘要 |
本发明属于光学检测领域,涉及一种哈特曼传感器。该装置由光路缩束系统、微扫描装置、微透镜阵列、CCD探测器、数字图像处理器以及波前处理机组成。将微扫描装置放置于平行光管与微透镜阵列之间,经过微扫描,由CCD采集到被测波前4帧图像,经过数字图像处理器重建成单帧图像,再由波前处理机进行质心计算及波前重构。本发明可提高哈特曼传感器的像质检测精度,扩大哈特曼传感器的使用范围。 |
申请公布号 |
CN102507019A |
申请公布日期 |
2012.06.20 |
申请号 |
CN201110370458.2 |
申请日期 |
2011.11.21 |
申请人 |
长春理工大学 |
发明人 |
付跃刚;刘妍;刘智颖;王加科;张磊;高天元 |
分类号 |
G01J9/00(2006.01)I;G02B26/06(2006.01)I;G02B3/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01J9/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
基于微扫描的像质检测用哈特曼波前传感器,包括光路缩束系统,微扫描装置以及相应的数字图像处理器,微透镜阵列,CCD探测器以及波前处理机;其特征在于在缩束系统之后微透镜阵列之前放置微扫描装置。 |
地址 |
130022 吉林省长春市卫星路7089号 |