发明名称 Testvorrichtung und Testverfahren für ein moduliertes Signal
摘要 Eine Testvorrichtung (2), welche ein moduliertes Signal (S1) testet, welches von einem zu testenden Bauelement ausgegeben wird. Eine Cross-Timingdaten-Generierungseinheit (10), welche Cross-Timingdaten generiert, welche Timings angeben, an welchem das Level des zu testenden Signals (S1) jeden einer Vielzahl von Grenzwerten überschreitet. Eine Erwartungswertdaten-Generierungseinheit (30), welche Timing-Erwartungswertdaten generiert, die Timings angeben, an welchem ein erwarteter Wert einer Wellenform (S2) eines zu testenden Signals (S1) jeden der Vielzahl an Grenzwerten überschreitet, wenn die Erwartungswert-Wellenform mit den Grenzwerten verglichen wird. Eine Vergleichseinheit (40), welche die Cross-Timingdaten mit den Timing-Erwartungswertdaten vergleicht.
申请公布号 DE112010003393(T5) 申请公布日期 2012.06.14
申请号 DE201011003393T 申请日期 2010.08.09
申请人 ADVANTEST CORPORATION 发明人 ISHIDA, MASAHIRO;OKAYASU, TOSHIYUKI;WATANABE, DAISUKE;MORISHITA, SAKAKI
分类号 G01R31/319 主分类号 G01R31/319
代理机构 代理人
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