| 摘要 |
<p>Eine optische Untersuchungseinrichtung (10) für ein Bauteil (12) hat einen ersten und einen zweiten Untersuchungsbereich. Sie hat eine bildgebende Vorrichtung (22) zum optischen Erfassen von Seitenflächen eines Bauteils. Diese bildgebende Vorrichtung ist dazu eingerichtet, im ersten Untersuchungsbereich (Pos B) ein Bild einer der Seitenflächen eines Bauteils zu erfassen und im zweiten Untersuchungsbereich (Pos C) ein Bild mehrerer der Seitenflächen eines Bauteils zu erfassen. Diese Untersuchungseinrichtung hat einen Bauteilförderer (14). Der Bauteilförderer hat eine Halteeinrichtung (16) für ein Bauteil. Er ist dazu eingerichtet, ein gehaltenes Bauteil entlang eines Bauteilwegs (20) zu fördern. Der Bauteilweg kann zum ersten Untersuchungsbereich, vom ersten Untersuchungsbereich zum zweiten Untersuchungsbereich und weg vom zweiten Untersuchungsbereich führen. Die bildgebende Vorrichtung hat eine Bilderfassungseinrichtung (24), die dazu eingerichtet ist, auf eine Seitenfläche eines Bauteils am ersten Untersuchungsbereich gerichtet zu werden, und eine Bildeinkoppeleinrichtung (28), die dazu eingerichtet ist, in die Bilderfassungseinrichtung ein Bild mehrerer der Seitenflächen eines Bauteils vom zweiten Untersuchungsbereich einzukoppeln. Eine erste Bildumlenkeinrichtung (32) ist zusammen mit dem Bauteilförderer beweglich. Der Bauteilförderer ist dazu eingerichtet, ein Bauteil im wesentlichen kontinuierlich entlang des Bauteilwegs zu fördern.</p> |
