发明名称 Lateraler MOSFET mit einer Substrat-Drainverbindung
摘要 In einer Ausführung umfasst ein lateraler MOSFET ein aktives Gate, das seitlich zwischen einem Source-Bereich und einem Drain-Bereich positioniert ist, wobei sich der Drain-Bereich von einer oberen Fläche eines monokristallinen Halbleiterkörpers zu einer unteren Fläche des monokristallinen Halbleiterkörpers erstreckt, und ein nicht-aktives Gate, das über dem Drain-Bereich positioniert ist. In einer anderen Ausführung umfasst der laterale MOSFET ein Gate, das seitlich zwischen einem Source-Bereich und einem Drain-Bereich positioniert ist, wobei sich der Drain-Bereich von einer oberen Fläche eines monokristallinen Halbleiterkörpers zu einer unteren Fläche des monokristallinen Halbleiterkörpers erstreckt, wobei der Source-Bereich und der Drain-Bereich von einem ersten Leitungstyp sind, einen Heavy-Body-Bereich eines zweiten Leitungstyps, der in Kontakt mit und unter dem Source-Bereichs ist, und der Drain-Bereich einen schwach dotierten Drain (LDD)-Bereich aufweist, der benachbart zu einer Kante des Gates ist, und eine Senke, die sich von der oberen Fläche des monokristallinen Körpers zu einer unteren Fläche des monokristallinen Halbleiterkörpers erstreckt.
申请公布号 DE112009003199(T5) 申请公布日期 2012.06.14
申请号 DE200911003199T 申请日期 2009.12.08
申请人 FAIRCHILD SEMICONDUCTOR CORPORATION 发明人 GREBS, THOMAS E.;DOLNY, GARY M.;KINZER, DANIEL M.
分类号 H01L21/336;H01L29/78 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
地址