发明名称 一种自校验卷扬计数装置及计数方法
摘要 本发明公开了一种自校验的卷扬计数装置及其计数方法,装置包括:一检测板,设置在卷扬侧端,所述检测板外缘上设置有若干计数齿,所述若干计数齿等间距环绕所述检测板外缘一周;所述检测板上还设置有校验齿;计数开关,设置在所述检测板的外缘的侧面,用于计数所述检测板的旋转圈数;校验开关,设置在所述检测板侧面,位于所述校验齿旋转时所在的圆环上;控制器,连接所述计数开关和所述校验开关,用于通过从校验开关获取的校验信息对所述从计数开关获取的计数信息做补偿。本发明通过机构的自动操作,消除使用过程中误差的累计,免除客户或生产厂商使用一段时间就需要进行重新标定的麻烦,让客户在使用过程中,更安全、更高效。
申请公布号 CN102494652A 申请公布日期 2012.06.13
申请号 CN201110432355.4 申请日期 2011.12.21
申请人 上海三一科技有限公司 发明人 吴牧
分类号 G01B21/06(2006.01)I;B66D1/40(2006.01)I;B66D1/54(2006.01)I 主分类号 G01B21/06(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 王敏杰
主权项 一种自校验的卷扬计数装置,其特征在于,包括:一检测板,设置在卷扬侧端,所述检测板外缘上设置有若干计数齿,所述若干计数齿等间距环绕所述检测板外缘一周;所述检测板上还设置有校验齿;计数开关,设置在所述检测板的外缘的侧面,用于计数所述检测板的旋转圈数;校验开关,设置在所述检测板侧面,位于所述校验齿旋转时所在的圆环上;控制器,连接所述计数开关和所述校验开关,用于通过从校验开关获取的校验信息对所述从计数开关获取的计数信息做补偿。
地址 201202 上海市浦东新区川沙路6999号205室
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