发明名称 |
光学性能监控器 |
摘要 |
提供一种用于监控WDM光信号的OSNR的光学性能监控器,其中具有多个Vernier输入端口的多路阵列波导光栅(AWG)被设置在光开关和光二极管阵列之间,被耦合至AWG的输出端口。在工作中,光开关依序将输入光信号提供入各个Vernier端口,以及将光二极管检测的信号存储在存储器单元。该装置能够以步进频率监控WDM信号的OSNR,所述步进频率比AWG通频带间的频率间隔小M倍,同时通过提供准确的噪声采样来完成增强的动态范围内的OSNR监控。 |
申请公布号 |
CN1835420B |
申请公布日期 |
2012.06.13 |
申请号 |
CN200610057174.7 |
申请日期 |
2006.03.13 |
申请人 |
JDS尤尼弗思公司 |
发明人 |
沈金熙 |
分类号 |
H04B10/08(2006.01)I;H04J14/02(2006.01)I |
主分类号 |
H04B10/08(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
郑小粤 |
主权项 |
一种光学性能监控器,用于监控包括多条波分复用WDM信道的输入光信号的光信噪比OSNR,所述WDM信道具有以信道频率间隔Δch均匀分布的信道中心频率,所述光学性能监控器包括:色散元件,包括M个输入端口和J个输出端口,其中M>2且J>2,控制装置,用于接收输入光信号以将所述输入光信号顺序地光耦合入M个输入端口中的每一个输入端口;光电探测器装置,所述光电探测器装置与J个输出端口光耦合,用于在输入光信号被耦合入M个输入端口中的任一端口时提供与J个输出端口的每一个端口中光功率相关的电信号;以及处理装置,用于根据由所述光电探测器装置提供的电信号确定输入光信号的OSNR;其中色散元件用于根据各自输入和输出端口的位置以不同采样频率将各个输入端口与各个输出端口的光耦合,用于在输入光信号依序被耦合入M个输入端口时以多个采样频率对输入光信号中的光谱进行采样,其中所述的J个输出端口被配置成用于以第一组J个采样频率将光耦合至M个输入端口中之一,所述第一组J个采样频率以信道频率间隔Δch被均匀分布以及以信道频率间隔Δch的预定分数偏离信道中心频率,用于检测在WDM信道间的光噪级别;其中M个输入端口被配置成用于以第二组M个采样频率将光耦合至J个输出端口中之一,其中所述第二组M个采样频率以至少2·Δch/M间隔,以及,其中色散元件的特征在于空间色散特征依赖于输入端口而变化,以及其中多个采样频率包括一个至少M个连续的采样频率的序列,其中因输入端口依赖于色散元件的空间色散特征,相邻采样频率之间信道频率间隔以大于预定值而变化。 |
地址 |
美国加利福尼亚 |