发明名称 一种测量铝电解质温度和初晶温度的装置及方法
摘要 一种测量铝电解质温度和初晶温度的装置及方法,装置由探头Ⅰ和探头Ⅱ、分析仪器和升降装置构成,两个温度传感器与分析仪器装配在一起,两个保护套固定在升降装置上;温度传感器插入保护套管内的小孔中;方法为:两个探头插入到熔融电解质中,分析仪器记录两个探头的温度,建立温度-时间关系曲线;当温度都恒定不变时停止记录;建立温度差-温度曲线,温度差-温度曲线中停止记录时,该处对应的探头Ⅰ测得的温度为电解质温度;温度差-温度曲线中电解质温度前第一个峰值点处对应的探头Ⅰ测得的温度即为电解质的初晶温度。本发明的装置及方法具有测量结果准确,重复测量稳定,便于操作的效果。
申请公布号 CN102494789A 申请公布日期 2012.06.13
申请号 CN201110445908.X 申请日期 2011.12.28
申请人 东北大学 发明人 高炳亮;王兆文;史冬;石忠宁;胡宪伟;于江玉
分类号 G01K1/08(2006.01)I;G01K7/02(2006.01)I;C25C3/20(2006.01)I 主分类号 G01K1/08(2006.01)I
代理机构 沈阳东大专利代理有限公司 21109 代理人 李在川
主权项 一种测量铝电解质温度和初晶温度的装置,其特征在于该装置由探头Ⅰ和探头Ⅱ、分析仪器和升降装置构成,每个探头由一个温度传感器和一个保护套管组成,两个温度传感器同时与一个分析仪器装配在一起,两个保护套管固定在一个升降装置上;每个探头中温度传感器的上部固定在保护套管内,温度传感器的末端插入保护套管内的空腔下部的小孔中。
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