元器件分类检测法

摘要

本发明公开了一种元器件分类检测法，包括：对元器件的辐照测试数据进行统计分析，得到耐量的几何平均值和对数标准方差S_lnD；根据所述耐量的几何平均值计算出RDM值：查正态分布的单侧容许限表，根据给定样本容量n、置信度C和可靠度Ps条件时的单侧容许限系数K；根据对数标准方差S_lnD以及单侧容许限系数K计算PCC值：比较RDM值以及PCC值，确定元器件的分类。本发明只需要用较小的样本容量即可实现对元器件的分类，效率有了很大的提高。

主权项

1.一种元器件分类检测法，包括：步骤1)、利用辐照测试装置得到元器件的辐照测试数据，对这些辐照测试数据进行统计分析，得到耐量的几何平均值和对数标准方差S_lnD；步骤2)、根据所述耐量的几何平均值计算出RDM值：$\mathrm{RDM}=\tilde{D}/D_0;$其中，D₀表示环境要求量；步骤3)、查正态分布的单侧容许限表，根据给定样本容量n、置信度C和可靠度Ps条件时的单侧容许限系数K；步骤4)、根据步骤1)得到的对数标准方差S_lnD以及步骤3)得到的单侧容许限系数K计算PCC值：$\mathrm{PCC}==e^{{\mathrm{KS}}_{\ln D}};$步骤5)、比较步骤2)得到的RDM值以及步骤4)得到的PCC值，确定元器件的类别，实现对元器件的分类检测。