发明名称 | 一种有效的特征点描述I-BRIEF方法 | ||
摘要 | 本发明提出了一种有效的特征点描述I-BRIEF方法,步骤一、按一定规则在以特征点为中心的指定大小的图像面片上选取一系列的由两个像素位置组成的像素测试点对,这些测试点对组成一个测试点对集合。步骤二、在测试点对集合中选取一个点对,在每个点先局部平滑滤波,然后比较两个像素的灰度值,比较结果分为相似、亮、暗三类,分别用两个比特00,10,01表示。步骤三、对测试点对集合中每一个点对重复步骤二过程,然后将测试结果串联在一起形成一个比特串,并把该比特串作为特征点的描述符。相比以往方法,该方法不仅能够快速的进行描述符计算和匹配,所需存储量也更少,用于描述的特征也更稳定。 | ||
申请公布号 | CN102496022A | 申请公布日期 | 2012.06.13 |
申请号 | CN201110341014.6 | 申请日期 | 2011.11.02 |
申请人 | 北京航空航天大学 | 发明人 | 刘洁;梁晓辉 |
分类号 | G06K9/46(2006.01)I | 主分类号 | G06K9/46(2006.01)I |
代理机构 | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人 | 许玉明;顾炜 |
主权项 | 一种有效的特征点描述I‑BRIEF方法,其特征在于如下步骤:步骤1、在以特征点为中心的指定大小的图像面片上选取一系列的由两个像素位置组成的像素测试点对,这些测试点对组成一个测试点对集合;步骤2、在测试点对集合中选取一个点对,在每个点先局部平滑滤波,然后比较两个像素的灰度值,比较结果分为相似、亮、暗三类,分别用两个比特00,10,01表示;步骤3、对测试点对集合中每一个点对重复步骤二过程,然后将测试结果串联在一起形成一个比特串,并把该比特串作为特征点的描述符。 | ||
地址 | 100191 北京市海淀区学院路37号 |