发明名称 | 一种内建自测试装置 | ||
摘要 | 本发明公开了一种内建自测试装置可以独立于IP核之外,适用于多个IP,从而使得IP中可以不用再设置传统的内建自测试装置。因此,本发明可以减小IP的面积。 | ||
申请公布号 | CN102495361A | 申请公布日期 | 2012.06.13 |
申请号 | CN201110442382.X | 申请日期 | 2011.12.26 |
申请人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明人 | 粟雅娟;陈岚 |
分类号 | G01R31/3185(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I |
代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 逯长明 |
主权项 | 一种内建自测试装置,用于对IP核进行测试,其特征在于,所述内建自测试装置独立于所述IP核之外,与所述IP核相连接,所述内建自测试装置包括:测试图形发生器、存储器、控制器和测试响应压缩器,所述存储器,用于存储参考特征向量及随机种子;所述测试图形发生器,用于根据输入的测试数据和随机种子产生测试图形并加载到所述IP核中;所述测试响应压缩器,用于将所述IP核返回的测试响应数据压缩为测试特征向量;所述控制器,用于根据所述测试特征向量与所述参考特征向量的比较结果获得测试结果。 | ||
地址 | 100029 北京市朝阳区北土城西路3号 |