发明名称 | 一种单粒子误差注入仿真测试系统 | ||
摘要 | 本发明公开了一种单粒子误差注入仿真测试系统,包括计算机控制模块、测试主板和待测FPGA模块。本发明通过数值模拟辐射粒子照射情况,在计算机控制模块设置误差参数和注入量,将误差传入测试主板,再进行误差的注入和翻转位的比较、统计,最后将测试结果反馈到主控计算机进行误差结果分析。本发明能够验证经过抗单粒子辐射加固后的FPGA器件的可靠性。 | ||
申请公布号 | CN102495783A | 申请公布日期 | 2012.06.13 |
申请号 | CN201110404837.9 | 申请日期 | 2011.12.08 |
申请人 | 天津工业大学 | 发明人 | 王巍;王宁;徐飞;殷骏;刘慧芳;郑国平 |
分类号 | G06F11/26(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/26(2006.01)I |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 一种单粒子误差注入仿真测试系统,其特征在于,该误差注入仿真测试系统包括计算机控制模块、串口控制模块、系统数据控制模块、RAM存储模块、功能测试输出比较模块、待测FPGA模块。计算机控制模块通过一个串口控制模块和测试主板进行连接;系统数据控制模块与功能测试输出比较模块之间连接,进行数据的控制与比较输出;RAM存储模块连接于系统数据控制模块,进行输出数据的存储。待测FPGA模块通过标准接口连接在测试主板上。 | ||
地址 | 300160 天津市河东区成林道63号 |