发明名称 一种单粒子误差注入仿真测试系统
摘要 本发明公开了一种单粒子误差注入仿真测试系统,包括计算机控制模块、测试主板和待测FPGA模块。本发明通过数值模拟辐射粒子照射情况,在计算机控制模块设置误差参数和注入量,将误差传入测试主板,再进行误差的注入和翻转位的比较、统计,最后将测试结果反馈到主控计算机进行误差结果分析。本发明能够验证经过抗单粒子辐射加固后的FPGA器件的可靠性。
申请公布号 CN102495783A 申请公布日期 2012.06.13
申请号 CN201110404837.9 申请日期 2011.12.08
申请人 天津工业大学 发明人 王巍;王宁;徐飞;殷骏;刘慧芳;郑国平
分类号 G06F11/26(2006.01)I 主分类号 G06F11/26(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种单粒子误差注入仿真测试系统,其特征在于,该误差注入仿真测试系统包括计算机控制模块、串口控制模块、系统数据控制模块、RAM存储模块、功能测试输出比较模块、待测FPGA模块。计算机控制模块通过一个串口控制模块和测试主板进行连接;系统数据控制模块与功能测试输出比较模块之间连接,进行数据的控制与比较输出;RAM存储模块连接于系统数据控制模块,进行输出数据的存储。待测FPGA模块通过标准接口连接在测试主板上。
地址 300160 天津市河东区成林道63号