发明名称 内连线结构及其制造方法
摘要 一种内连线结构及其制造方法。先提供基底,接着在基底上形成具有开口的第一介电层。接着,于开口中形成导体层,并使导体层的顶面高度低于第一介电层的顶面高度。之后,于第一介电层及导体层上形成第一阻障层,再于第一阻障层上形成金属层。接着,图案化金属层与第一阻障层。第一阻障层可作为为导体层上的密封结构,而避免进行后续制程时导体层被腐蚀。
申请公布号 TWI366247 申请公布日期 2012.06.11
申请号 TW097127936 申请日期 2008.07.23
申请人 和舰科技(苏州)有限公司 中国 发明人 李秋德
分类号 H01L21/768 主分类号 H01L21/768
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 中国