发明名称 Method of forming a dual damascene pattern in a semiconductor device
摘要 <p>이로써, 본 발명은 비아홀 입구에 펜스가 형성되는 것을 방지하면서 절연막이 잔류하여 비아홀이 형성되지 않는 문제점을 해결하여 공정의 신뢰성 및 소자의 전기적 특성을 향상시킬 수 있다.</p>
申请公布号 KR101152261(B1) 申请公布日期 2012.06.08
申请号 KR20040001748 申请日期 2004.01.09
申请人 发明人
分类号 H01L21/28 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人
主权项
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