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发明名称
Method of forming a dual damascene pattern in a semiconductor device
摘要
<p>이로써, 본 발명은 비아홀 입구에 펜스가 형성되는 것을 방지하면서 절연막이 잔류하여 비아홀이 형성되지 않는 문제점을 해결하여 공정의 신뢰성 및 소자의 전기적 특성을 향상시킬 수 있다.</p>
申请公布号
KR101152261(B1)
申请公布日期
2012.06.08
申请号
KR20040001748
申请日期
2004.01.09
申请人
发明人
分类号
H01L21/28
主分类号
H01L21/28
代理机构
代理人
主权项
地址
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