发明名称 | 片上系统芯片和对片上系统芯片进行测试的方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种片上系统芯片和对片上系统芯片进行测试的方法,该片上系统芯片包括:第一IO MUX,用于将来自外部测试信号发生器的测试数据传送到总线MUX上,并由总线MUX选择并驱动外设或者加速器进行测试;至少一个结果和状态模块,用于接收对外设和/或加速器的测试结果,并将测试结果发送到相应的第二IO MUX;至少一个第二IOMUX,用于将测试结果发送到外部测试数据分析器,以实现对测试结果的分析。通过上述技术方案,解决了SOC芯片不能够快速测试的问题,提高了芯片检测的正确率和效率,从而能够快速的挑选功能完好的芯片。 | ||
申请公布号 | CN101713813B | 申请公布日期 | 2012.06.06 |
申请号 | CN200810168225.2 | 申请日期 | 2008.10.06 |
申请人 | 中兴通讯股份有限公司 | 发明人 | 陶建平 |
分类号 | G01R31/317(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/317(2006.01)I |
代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 尚志峰;吴孟秋 |
主权项 | 一种片上系统芯片,包括处理器、DMA,其中,所述处理器、所述DMA通过总线MUX连接至外设和/或加速器并能够选择所述外设和/或所述加速器,其特征在于,所述片上系统芯片进一步包括:第一IO MUX,用于将来自外部测试信号发生器的测试数据传送到总线MUX上,并由所述总线MUX选择并驱动外设或者加速器进行测试;至少一个结果和状态模块,用于接收对所述外设和/或所述加速器的测试结果,并将所述测试结果发送到相应的第二IO MUX;至少一个所述第二IOMUX,用于将所述测试结果发送到外部测试数据分析器,以实现对所述测试结果的分析。 | ||
地址 | 518057 广东省深圳市南山区科技南路55号 |