发明名称 加热腔室及半导体加工设备
摘要 本发明公开了一种加热腔室及半导体加工设备,加热腔室中设有能纵向移动的载板,用于承载被加工基片,载板的侧面设有前后贯通的凹槽,加热腔室的侧壁上设有热电偶,热电偶的前端伸入到凹槽中,并通过弹性装置压紧,使热电偶可以紧密的接触载板,所测量的温度就是载板的温度,误差较小;热电偶藏于凹槽之中,还可以避免加热灯管的干扰,测温准确。可以应用在等离子体增强化学气相沉积设备、太阳能电池生产设备、半导体芯片制造设备、薄膜晶体管液晶显示面板制造设备等半导体加工设备中。
申请公布号 CN101853774B 申请公布日期 2012.06.06
申请号 CN200910081053.X 申请日期 2009.03.31
申请人 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 发明人 蒲春
分类号 H01L21/00(2006.01)I;H01L21/324(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I;G01K1/14(2006.01)I 主分类号 H01L21/00(2006.01)I
代理机构 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 代理人 赵镇勇
主权项 一种加热腔室,包括用于传送基片的载板,其特征在于,在所述载板前进方向的侧面设有前后贯通的凹槽,该加热腔室的侧壁上设有热电偶,所述热电偶的前端伸入到所述凹槽中。
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