| 发明名称 | 强度调制型光纤传感器测量装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种强度调制型光纤传感器测量装置，包括脉冲光源、1×2光分路器一、1×2光分路器二、强度调制型光纤传感器、差分放大器和数据处理单元，脉冲光源与1×2光分路器一的输入端连接，1×2光分路器一的输出端通过光纤与1×2光分路器二的输入端连接，1×2光分路器二的两个输出端分别通过光纤一和光纤延迟线与光探测器一和光探测器二的输入端连接，光探测器一和光探测器二的输出端与差分放大器的输入端连接，差分放大器的输出端与数据处理单元连接；1×2光分路器一的输出端与光强度调制传感器连接，光反射器一和光反射器二分别设置在强度调制型光纤传感器两侧。本发明降低对激光器脉冲宽度的要求，降低了成本。 | ||
| 申请公布号 | CN102486385A | 申请公布日期 | 2012.06.06 |
| 申请号 | CN201010573067.6 | 申请日期 | 2010.12.03 |
| 申请人 | 西安金和光学科技有限公司 | 发明人 | 杜兵 |
| 分类号 | G01D5/26(2006.01)I | 主分类号 | G01D5/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 西安创知专利事务所 61213 | 代理人 | 谭文琰 |
| 主权项 | 强度调制型光纤传感器测量装置，其特征在于：包括脉冲光源(10)、1×2光分路器一(12)、1×2光分路器二(20)、强度调制型光纤传感器(16)、光反射器一(13)、光反射器二(14)、光探测器一(9)、光探测器二(11)、差分放大器(22)和数据处理单元(23)，所述脉冲光源(10)与1×2光分路器一(12)的输入端连接，所述1×2光分路器一(12)的输出端通过光纤与1×2光分路器二(20)的输入端连接，所述1×2光分路器二(20)的两个输出端分别通过光纤一(1)和光纤延迟线(21)与光探测器一(9)和光探测器二(11)的输入端连接，所述光探测器一(9)和光探测器二(11)的输出端与差分放大器(22)的输入端连接，所述差分放大器(22)的输出端与数据处理单元(23)连接；所述1×2光分路器一(12)的输出端与光强度调制传感器连接，所述光反射器一(13)和光反射器二(14)分别设置在强度调制型光纤传感器(16)两侧，且所述光反射器一(13)位于1×2光分路器一(12)与强度调制型光纤传感器(16)之间。 | ||
| 地址 | 710075 陕西省西安市高新区高新四路丹枫国际B座1501室 | ||