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缺陷诊断及管理之方法
摘要
一种缺陷诊断及管理之方法,其应用于一物体的制造流程中,该方法包括步骤如下:得到该物体的一检验影像图,该检验影像图显示该物体的至少一个缺陷;搜寻对应于该检验影像图的一设计规划图,该设计规划图具有多数个导电区域;比对该检验影像图及该设计规划图来校正该缺陷在该设计规划图上的座标;以及判断该缺陷与该导电区域之重叠量来判定该缺陷是否导致一断路错误或一短路错误。藉此,缺陷于设计规划图的正确座标可被找到,使得缺陷可进一步被判定是否会导致错误与否。
申请公布号
TWI365420
申请公布日期
2012.06.01
申请号
TW098106933
申请日期
2009.03.04
申请人
吕一云
发明人
吕一云
分类号
G06Q99/00
主分类号
G06Q99/00
代理机构
代理人
王云平 台北市大安区敦化南路2段71号18楼;庄志强 台北市大安区敦化南路2段71号18楼
主权项
地址
新竹市东区科学园路107巷18号8楼之2 TW 8F.-2, NO. 18, LANE 107, KESYUEYUAN RD., EAST DISTRICT, HSINCHU CITY 300, TAIWAN, R. O. C.
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