发明名称 CONFOCAL LASER SCANNING MICROSCOPE AND A METHOD FOR EXAMINING A SAMPLE
摘要 <p>Ein konfokales Laser-Scanmikroskop (20) zum Untersuchen einer Probe (46) hat eine Lichtquelle (22), die einen Beleuchtungslichtstrahl (24) erzeugt, und eine Scaneinheit (38), die den Beleuchtungslichtstrahl (24) so ablenkt, dass er die Probe (46) optisch abtastet. Ein Hauptstrahlteiler (34) trennt den Beleuchtungslichtstrahl (24) von von der Probe (46) ausgehendem Detektionslicht (48). Das vom Beleuchtungslichtstrahl (24) getrennte Detektionslicht (48) tritt zumindest teilweise durch eine Detektionslochblende (50). Mindestens zwei Detektoreinheiten (102, 104, 106) detektieren das durch die Detektionslochblende (50) tretende Detektionslicht (48). Ein optisches Element (62) ist in Strahlrichtung zwischen der Detektionslochblende (50) und den Detektoreinheiten (102, 104, 106) angeordnet und trennt das Detektionslicht (48) in mindestens zwei Strahlbündel (70, 72, 74) und spaltet es innerhalb der Strahlbündel (70, 72, 74) spektral auf.</p>
申请公布号 WO2012069443(A1) 申请公布日期 2012.05.31
申请号 WO2011EP70623 申请日期 2011.11.22
申请人 LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH;RYGIEL, REINER 发明人 RYGIEL, REINER
分类号 G02B21/00;G01J3/14;G01J3/36;G02B27/14 主分类号 G02B21/00
代理机构 代理人
主权项
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