发明名称 |
侦测盘片上缺陷信号的方法及装置 |
摘要 |
本发明提供一种侦测盘片上缺陷信号的方法及装置,其使用有限状态机以对光驱的伺服系统进行控制,在侦测状态时,当多个缺陷侦测信号超过门槛值时,将侦测计数器设定为预设值,有限状态机进入ARM状态;在ARM状态时,当侦测计数器计数至第一预设值或第二预设值时,有限状态机进入KICK状态;在KICK状态时,第一旗标信号FE_XDFCT或第二旗标信号TE_XDFCT被设置,当侦测计数器计数至0时,有限状态机进入WAIT状态;在WAIT状态时,当侦测计数器计数至第三预设值时,有限状态机进入该侦测状态;其中,当第一旗标信号FE_XDFCT或第二旗标信号TE_XDFCT被设置时,伺服系统的对应控制信号维持为可编程的固定电压。 |
申请公布号 |
CN101989445B |
申请公布日期 |
2012.05.30 |
申请号 |
CN200910159048.6 |
申请日期 |
2009.08.04 |
申请人 |
宏阳科技股份有限公司 |
发明人 |
史蒂芬·费司 |
分类号 |
G11B20/18(2006.01)I;G11B19/20(2006.01)I |
主分类号 |
G11B20/18(2006.01)I |
代理机构 |
北京戈程知识产权代理有限公司 11314 |
代理人 |
程伟;王锦阳 |
主权项 |
一种侦测盘片上缺陷信号的方法,其使用有限状态机以对光驱的伺服系统进行控制,该方法包含:(A)在侦测状态时,当多个缺陷侦测信号超过门槛值时,将侦测计数器设定为预设值,该有限状态机进入ARM状态;(B)在前述ARM状态时,当该侦测计数器计数至第一预设值或第二预设值时,该有限状态机进入KICK状态;(C)在前述KICK状态时,第一旗标信号或第二旗标信号被设置,当该侦测计数器计数至0时,该有限状态机进入WAIT状态;以及(D)在前述WAIT状态时,当该侦测计数器计数至第三预设值时,该有限状态机进入该侦测状态;其中,当该第一旗标信号或该第二旗标信号被设置时,该伺服系统的对应控制信号维持为可编程的固定电压。 |
地址 |
中国台湾新竹 |