发明名称 |
金属凸块结构及其应用于封装结构 |
摘要 |
一种金属凸块结构及其应用于封装结构,是于金属凸块四周设计有阻障层(dam structure),且阻障层的高度超出金属凸块的高度,而可于覆晶接合制程中,借由阻障层的阻挡限制各向异性导电层(ACF)中导电粒子的流动,再者,由于阻障层为高分子材料,其热阻高于金属凸块,将使得各向异性导电层产生流动性差异,进而减少导电粒子的流失,及提高导电粒子的捕捉率。 |
申请公布号 |
CN101635290B |
申请公布日期 |
2012.05.30 |
申请号 |
CN200810134024.0 |
申请日期 |
2008.07.22 |
申请人 |
瀚宇彩晶股份有限公司 |
发明人 |
汤宝云 |
分类号 |
H01L23/485(2006.01)I;H01L23/488(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/485(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
李树明 |
主权项 |
一种封装结构,包含:一第一基板,具有一第一连接垫与一第一保护层,该第一保护层是形成于该第一连接垫周围;一凸块底部金属层,形成于该第一连接垫上;一金属凸块,形成于该凸块底部金属层上;一高分子材料的阻障层,形成于该第一保护层上并完整环绕于该金属凸块的周围,且该阻障层的高度超出该金属凸块的高度,阻障层围绕金属凸块形成一半封闭空间,一第二基板,具有一第二连接垫与一第二保护层,该第二保护层形成于该第二连接垫周围;以及一各向异性导电层,是散布有多个导电粒子,形成于该第一基板与该第二基板之间,于该第一基板与该第二基板接合期间,所述阻障层顶抵于所述第二连接垫周围的第二保护层,使该半封闭空间密闭于该第二基板。 |
地址 |
中国台湾台北县 |