发明名称 高能双能CT系统的图象重建方法
摘要 公开了一种在高能双能CT系统中的图像重建方法,包括步骤:利用高能双能射线扫描物体,以获得高能双能投影值;根据预先创建的查找表或者通过解析求解方程组的方法,计算双能投影值对应的基材料系数投影值;基于基材料的投影值,得到基材料系数的分布图像。解决了高能下双能重建的问题,提供了更为有效的物质识别和违禁品检查手段,大大提高了安全检查的精度和效率。
申请公布号 CN101647706B 申请公布日期 2012.05.30
申请号 CN200810118304.2 申请日期 2008.08.13
申请人 清华大学;同方威视技术股份有限公司 发明人 张丽;陈志强;康克军;胡海峰;邢宇翔;段新辉;李元景;刘以农;黄清萍
分类号 A61B6/03(2006.01)I;G01N23/04(2006.01)I;G01B15/00(2006.01)I 主分类号 A61B6/03(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 王波波
主权项 一种在高能双能CT系统中的基于基材料分解模型的图像重建方法,包括步骤:利用高能双能射线扫描物体,以获得高能双能投影值,所述高能双能射线的能量大于1MeV;根据预先创建的查找表或者通过解析求解方程组的方法,计算双能投影值对应的基材料系数投影值;基于基材料的投影值,得到基材料系数的分布图像;其中,所述基材料分解模型是仅仅针对物质对高能X射线的康普顿效应和电子对效应的线衰减系数的线性组合而建立的。
地址 100084 北京市海淀区清华大学