发明名称 在异质界面处具有错配位错的部分或完全驰豫合金上的基于半极性氮化物的装置
摘要 本发明涉及一种通过在空间上限制异质界面周围的错配位错制作的具有驰豫晶格常数的无位错高质量模板。此可用作高In成份装置的模板层。具体来说,本发明制备高质量InGaN模板(In成份约为5%到10%),且可在这些模板上生长In成份比原本将可能的情况高得多的InGaN量子阱QW(或多量子阱MQW)。
申请公布号 CN102484047A 申请公布日期 2012.05.30
申请号 CN201080037288.X 申请日期 2010.08.23
申请人 加利福尼亚大学董事会 发明人 太田裕朗;武凤;阿努拉格·蒂雅吉;阿尔潘·查克拉伯蒂;詹姆斯·S·斯佩克;斯蒂芬·P·登巴尔斯;中村修二;埃林·C·永
分类号 H01L21/20(2006.01)I 主分类号 H01L21/20(2006.01)I
代理机构 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人 章蕾
主权项 一种外延结构,其包括:第一层,其为具有部分或完全驰豫的晶格常数的半极性氮化物(AlInGaN)层,所述第一层沉积在第二层上,其中在所述第一层与所述第二层之间的异质界面处存在一个或一个以上位错。
地址 美国加利福尼亚州