用于力测量设备的温度校正的方法和力测量设备

摘要

本发明涉及一种用于力测量设备(1)，具体地说，天平的温度校正的方法，其是基于电磁力补偿原理的，其按正常的测量模式运行，包括借助于力测量单元(10)来产生与输入力对应的力测量信号(mL)的步骤；借助于设置在离所述力测量设备(1)的发热部件一定距离处的温度传感器(15)来产生电气的温度测量信号(mT)，其中所述温度测量信号(mT)相应于所述力测量设备所暴露的环境温度(Te)；基于所述温度测量信号(mT)和力测量信号(mL)来将所述力测量信号(mL)处理成温度校正输出信号(mLc)；并且将所述输出信号(mLc)输送至指示器单元(13)和/或进一步的处理单元(14)。在所述处理步骤中，借助于热力学模型来由所述力测量信号(mL)和/或温度测量信号(mT)计算出用于校正所述输出信号(mLc)的至少一个校正参数(CP)，其中所述校正参数(CP)表示处于系统温度(Ts、Ts1、Ts2)和环境温度(Te)之间或者第一系统温度(Ts1)和第二系统温度(Ts2)之间的温度差(dTr、dT1、dT2)。

主权项

一种用于力测量设备(1)的，具体地说，天平的温度校正同时按测量模式操作的方法，包括以下步骤：‑借助于力测量单元(10)，产生与输入力对应的电气的力测量信号(mL)；‑借助于设置在距所述力测量设备(1)的发热部件一定距离处的温度传感器(15)来测量温度(Tm)并且产生与测得温度(Tm)对应的温度测量信号(mT)，其中所述温度(Tm)主要与所述力测量设备所暴露的环境温度(Te)相当；‑基于所述温度测量信号(mT)和力测量信号(mL)来将所述力测量信号(mL)处理成温度校正输出信号(mLc)；以及‑将所述输出信号(mLc)输送至指示器单元(13)和/或进一步的处理单元(14)，‑其特征在于，在所述处理步骤中，借助于基础的热力学模型来由所述力测量信号(mL)和温度测量信号(mL)计算出用于校正所述输出信号(mLc)的至少一个校正参数(CP)，其中所述校正参数(CP)表示存在于下述之间的温度差(dTr、dT1、dT2)，A)在系统温度(Ts、Ts1、Ts2)和所述测得温度(Tm)之间，和/或B)在第一系统温度(Ts1)和第二系统温度(Ts2)之间。