发明名称 |
通用型测量装置及其定位机构 |
摘要 |
本发明公开一种通用型测量装置,其包括:一底板;至少二个相同的定位机构,可滑动地设置于该底板上,该定位机构包括:可在所述通用型装置中沿一方向移动的滑块;升降块,可相对于所述滑块上下运动地与所述滑块连接;测杆,可垂直于该方向移动地插入于所述升降块上的一水平通孔之中,以使所述测杆通过滑块、升降块以及测杆其各自的运动方向而在该待测工件的三维长度上为可调的,并定位和固定该待测工件。该通用型测装置由于采用了三维可调式定位机构对待测工件进行定位,其可以满足不同工件的尺寸大小来实现精确定位,并且还可以较方便地同时测量待测工件的长、宽、高,且精度高、测量速度快。 |
申请公布号 |
CN101441069B |
申请公布日期 |
2012.05.30 |
申请号 |
CN200710187834.8 |
申请日期 |
2007.11.19 |
申请人 |
施耐德电器工业公司 |
发明人 |
乔凯 |
分类号 |
G01B21/00(2006.01)I;G01B21/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01B21/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
陈小雯 |
主权项 |
一种通用型测量装置,其特征在于,包括:一底板;以及至少二个相对的定位机构,所述定位机构均可滑动地设置于该底板上,在该各定位机构上设有一用于定位一待测工件的测杆,该测杆在该待测工件的三维长度上为可调的并定位及固定该待测工件,其中,该测杆的测头为一台阶,该台阶具有一平面及一垂直面,在该台阶的平面上设有一钢珠,以点接触的方式支撑该待测工件的基准面,该台阶的垂直面用于抵触该待测工件的侧面。 |
地址 |
法国吕埃-马迈松 |