基于直线轨迹扫描的双能欠采样物质识别系统和方法

摘要

公开了一种基于直线轨迹扫描的双能欠采样物质识别系统和方法。利用直线轨迹扫描过程中由整层的低能探测器阵列获得的低能投影数据对被检测物体进行CT重建，在CT重建图像中运用区域图像分割方法按照衰减系数对此断层图像进行区域分割并进行标记。同时，利用设置在部分低能探测器后的少数几个高能探测器得到的投影数据实现双能量物质识别成像。由于利用直线轨迹，不需要旋转，因此机械设计简单，检查通关率高；由于仅使用少量几个的双能探测器，系统成本低。

主权项

一种基于直线轨迹扫描的双能欠采样物质识别方法，包括：对被检查物体进行直线轨迹CT扫描，通过第一层阵列探测器获得第一投影数据以重建被检测物体的CT图像，以及通过设置在部分第一层阵列探测器后的第二层探测器阵列获得第二投影数据，其中，第一层阵列探测器为低能阵列探测器，第二层阵列探测器为高能阵列探测器；被检测物体在射线源和阵列探测器之间沿着一个方向直线运动；组合第一投影数据和第二投影数据，以获得部分角度下的双能欠采样数据；根据双能欠采样数据采用查表的方法获得光电系数积分值和康普顿系数积分值；对被检测物体的CT图像进行区域分割，得到分割后的多个区域并且计算双能射线穿过各个区域的长度；根据双能射线穿过各个区域的长度，光电系数积分值和康普顿系数积分值，利用双能前处理双效应分解重建方法求解康普顿系数和光电系数；基于康普顿系数和光电系数至少计算各分割的区域中物质的原子序数；至少基于原子序数对被检查物体的物质进行识别。