发明名称 |
制造复合材料晶片的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种制造复合材料晶片的方法,具体地说是制造绝缘体上硅型的晶片的方法,所述方法包括以下步骤:提供初始施主衬底,在所述初始施主衬底上形成绝缘层,在所述初始施主衬底中形成预定分裂区,将所述初始施主衬底粘接到操作衬底上,以及在所述预定分裂区剥离所述施主衬底,由此将所述初始施主衬底的一层转移到所述操作衬底上,以形成复合材料晶片。为了能够更多次再使用施主衬底,本发明提出在低于950℃,具体地说是低于900℃,优选是在850℃或更低的温度下执行热处理步骤以形成绝缘层。 |
申请公布号 |
CN101558487B |
申请公布日期 |
2012.05.30 |
申请号 |
CN200880001114.0 |
申请日期 |
2008.01.16 |
申请人 |
硅绝缘体技术有限公司 |
发明人 |
帕特里克·雷诺;奥列格·科农丘克;米夏埃尔·司廷科 |
分类号 |
H01L21/762(2006.01)I;H01L21/316(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/762(2006.01)I |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人 |
黄纶伟 |
主权项 |
一种制造绝缘体上硅型晶片的方法,所述方法包括以下步骤:a)提供初始施主衬底(1),b)在所述初始施主衬底(1)上形成绝缘层(3),c)在所述初始施主衬底(1)中形成预定分裂区,d)将所述初始施主衬底粘接到操作衬底(9)上,以及e)在所述预定分裂区(7)处剥离所述施主衬底(1),由此将所述初始施主衬底(1)的一层(13)转移到所述操作衬底(9)上,以形成绝缘体上硅型晶片,其特征在于通过在低于900℃的温度下执行热处理而形成所述绝缘层(3),其中逐制造轮次地提高形成所述绝缘层(3)的温度,并且这样来执行所述热处理,在使用所述初始施主衬底(1)及其随后的剩余部分(15)的各制造轮次中,使得所转移的一层的HF缺陷密度小于0.1个缺陷/cm2,以及其中所述方法反复进行至少三次,并且将所述初始施主衬底(1)的剩余部分(15)再次用作为后续制造轮次中的初始施主衬底(1)。 |
地址 |
法国伯涅尼 |